在科研探索与工业生产对高精度测量需求日益增长的当下，布鲁克 ContourX - 1000 白光干涉光学轮廓仪以其设计与强大性能，成为落地式测量设备中的，为众多领域带来全新的测量体验。布鲁克白光干涉轮廓仪落地式测量的革新力量
产品细节：稳固设计，智能操作
ContourX - 1000 采用落地式结构，机身稳固，能有效抵抗外界振动干扰。其集成了 Bruker 倾斜 / 俯仰光学头，双光源、自动化的物镜转盘和样品台，以及可选配的晶圆卡盘 。这种创新设计为各种复杂应用提供了极大便利，对于有难度的表面和深沟槽结构也能轻松应对。操作界面配备简洁且有引导性的 VisionXpress™程序和模式，降低了操作人员的使用难度，即使经验不足也能快速上手，轻松完成测量工作。全新的一键式高级寻找表面（Advanced Find Surface ™）功能结合自动聚焦和自动照明功能，无需每次测量前手动查找样品表面，极大提升了用户体验且缩短测量时间 。
产品性能：*技术，高效稳定
该轮廓仪融合了*的白光干涉技术与自动化功能。白光干涉技术精准测量表面微观形貌，自动化功能则大幅提高测量效率。设备运行稳定，配备专属的内部参考激光和防震台，即便在嘈杂环境中，也能确保测量性能不受影响，提供可靠的测量结果。全局扫描干涉（USI）自适应测量模式可自动确定测量参数，在几十微米尺度内也能确保纳米级分辨率 ，无论是对光滑表面还是粗糙表面，都能实现高精度测量。
用材讲究：坚固耐用，品质保障
ContourX - 1000 的选材注重坚固耐用与性能稳定。光学部件采用高品质材料，确保成像清晰、测量准确。机械结构选用高强度金属，保证设备在长期使用中，维持精准的运动精度。设备整体架构设计稳固，有效抵抗外界干扰，适应工业生产车间等复杂环境，保障设备的稳定运行与长期使用。
参数详情
广泛用途
在材料研发中，可用于分析材料表面的微观结构、涂层厚度均匀性等，为新材料的开发与性能优化提供重要依据。在半导体制造环节，能精确检测芯片表面的平整度、缺陷等，保障芯片制造的良品率。在汽车零部件制造、医疗器械生产等行业，对于零部件表面粗糙度、纹理的测量，有助于提升产品质量，确保产品性能符合标准。布鲁克 ContourX - 1000 白光干涉光学轮廓仪凭借创新设计、强大性能与广泛适用性，成为落地式测量设备中的革新力量，助力各行业在精密测量领域不断突破，迈向新的高度。布鲁克白光干涉轮廓仪落地式测量的革新力量
上一个：
返回列表
服务热线：
公司地址：
公司邮箱：
当前位置：首页
产品中心
产品简介
产品分类
相关文章