泽攸电镜 以多功能性满足多样化研究需求，其集成了扫描电镜（SEM）与透射电镜（TEM）的部分功能，通过更换样品台与探测器即可实现不同模式的切换。
作为 SEM 使用时，加速电压 5 - 50kV，二次电子分辨率 2.0nm；切换至 TEM 模式后，可对薄样品进行观察，点分辨率达 0.2nm，晶格分辨率 0.14nm。设备配备高角度环形暗场探测器（HAADF），能通过原子序数衬度成像，清晰观察纳米颗粒的分布。泽攸科研的电镜解决方案
机械结构采用大理石底座，有效吸收外界振动，保证高倍成像时的稳定性。电子光学系统的透镜采用无磁材料制造，减少磁场对电子束的干扰。参数表中显示，其最大样品倾斜角为 60°，适合进行动态原位观察，如材料在拉伸过程中的微观结构变化。
面向科研需求，泽攸电镜 在性能与扩展性上表现突出。其采用冷场发射电子枪，电子束能量稳定性优于 0.1eV/h，为高分辨率成像与精细成分分析奠定基础。
加速电压 10 - 100kV，可调节步长 0.1kV，满足不同厚度与成分样品的观察需求。配备球差校正器，能将电子束的球差降至最小，使 STEM 模式下的点分辨率达到 0.08nm，可直接观察原子排列结构。
设备支持多种原位实验附件，如加热台（室温 - 1000℃）、拉伸台（最大拉力 50N），可在电镜内模拟样品的服役环境，记录动态变化过程。真空系统采用全无油设计，避免油蒸气对样品的污染，极限真空达 5×10⁻⁸Pa。
使用时，需通过专业培训掌握高级功能，软件支持自动化数据采集与分析，可批量处理多个观察点的图像与光谱数据。适用于国家实验室、顶尖高校的前沿研究，如二维材料的原子层表征、催化剂的动态反应机理研究等，助力突破科学难题。泽攸科研的电镜解决方案
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