泽攸 台阶仪以稳定的测量表现，成为材料表面分析的实用工具。其核心测量系统采用高精度光栅尺，配合精密驱动机构，为位移测量提供可靠基础。泽攸 台阶仪：微观形貌的忠实记录者
该型号测量范围为 0 - 100μm，垂直分辨率达 0.1nm，能捕捉微小的台阶高度差异。扫描长度可在 10μm - 10mm 之间调节，满足不同尺寸样品的测量需求。传感器采用金刚石触针，针尖半径 5μm，测力范围 2 - 20mg，减少对软质样品表面的损伤。
设备机身选用铸铁材质，经时效处理消除内应力，有效降低外界振动对测量的影响。操作面板设计简洁，通过旋钮与按键可快速设置测量参数，配套软件支持数据的实时显示与后期分析，能生成台阶高度、粗糙度等参数报告。
使用时，将样品固定在工作台上，调整触针位置使其轻触样品表面，设置扫描速度（0.1 - 1mm/s）和扫描长度后启动测量。适用于薄膜厚度检测、涂层台阶分析等场景，如半导体晶圆的镀膜厚度测量，为生产质量控制提供数据支持。泽攸 台阶仪：微观形貌的忠实记录者
泽攸 台阶仪在设计上注重扩大测量范围的同时保持测量精度，其驱动系统采用伺服电机，运行平稳，扫描过程中触针测力波动小。
测量范围扩展至 0 - 200μm，垂直分辨率 0.05nm，水平分辨率 10nm，能应对更深的台阶与更细微的表面特征。扫描长度最大可达 50mm，适合较大尺寸样品的整体测量，如 PCB 板的线路台阶检测。
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