泽攸电镜微观世界的便携观测站

在材料科学、生物医学与纳米技术快速发展的今天，科研人员对微观形貌分析的需求愈发迫切。泽攸科技推出的ZEM15C台式扫描电镜，凭借其紧凑设计与高性能表现，成为实验室与工业现场的理想观测工具。

产品细节与性能亮点

ZEM15C采用预对中钨灯丝技术，无需复杂的光阑对中操作，开机后仅需2分钟即可进入高真空状态，实现快速成像。设备配备四分割背散射探测器（BSE）与二次电子探测器（SE），支持多种成像模式，可清晰呈现样品表面形貌与成分差异。其分辨率优于10纳米，放大倍数达15万倍，能够捕捉从纳米颗粒到细胞结构的微观细节。

核心用材与结构设计

设备主体采用高强度铝合金框架，搭配陶瓷真空腔体，有效降低热漂移对成像的影响。样品台采用步进电机驱动，移动重复性高，支持25毫米×25毫米范围内的精准定位。电子光学系统集成一体式聚光镜，优化了电子束的聚焦效率，同时降低能耗。

参数表与型号对比

ZEM系列还包含ZEM18与ZEM20型号，后者支持36万倍极限放大与4nm分辨率，适合对成像质量要求更高的研究场景。

典型应用场景

• 材料科学：分析金属断裂面、陶瓷晶界或高分子复合材料的相分离现象。

• 生物医学：观察细胞表面微绒毛结构或组织切片中的纳米级病变特征。

• 半导体检测：定位芯片表面的污染物颗粒或评估光刻胶的均匀性。

操作指南与维护建议

1. 样品准备：非导电样品需喷金或碳涂层以消除电荷积累。

2. 成像流程：通过触摸屏设置加速电压与工作距离，启动“自动聚焦"功能后，利用“消像散"工具优化图像清晰度。

3. 日常维护：每月清理样品室灰尘，每季度检查真空泵油位，确保设备长期稳定运行。

ZEM15C以“即插即用"的设计理念，降低了扫描电镜的使用门槛，成为高校教学、企业质检与科研探索的得力助手。