在材料科学、生物学、地质学等领域的微观研究中，台式扫描电子显微镜凭借小巧的体型和实用的性能，成为实验室的重要工具。ZEM20 台式扫描电子显微镜以其紧凑的设计和稳定的观察能力，为科研人员提供了便捷的微观形貌分析解决方案。
产品细节：紧凑设计兼顾操作便利
ZEM20 的机身采用一体化钢架结构，整体尺寸适中，占地面积约为 0.5 平方米，可轻松放置在实验室的普通工作台上，无需专门的大型安装空间。设备外壳采用冷轧钢板制成，表面经过防静电处理，能有效减少外界电磁干扰对内部电子系统的影响。
样品室位于设备前部，采用侧开式设计，最大可容纳直径 50mm、高度 20mm 的样品，满足多数常规样品的观察需求。样品台为电动三维移动台，支持 X、Y、Z 方向的精确移动，移动范围分别为 50mm、50mm、25mm，操作手柄位于样品室旁，调节顺畅且定位准确。
电子光学系统是核心部件，由电子枪、聚光镜、物镜等组成，集成在设备上部的密封腔体内。观察窗口配备高分辨率显示屏，可实时显示样品的微观图像，屏幕下方设有操作按键，包括放大倍数调节、亮度对比度调整等常用功能，布局清晰易懂。
设备后部设有多个接口，包括数据输出接口、电源接口和真空系统接口，接口处均有防尘盖保护，便于连接电脑、打印机等外部设备。真空系统采用内置式设计，包括机械泵和分子泵，启动后能快速达到观察所需的真空度。
产品性能：稳定成像支持多样分析
ZEM20 的分辨率表现良好，在高真空模式下，二次电子像的分辨率可达 3nm，能清晰观察到纳米级别的微观结构，如材料表面的颗粒分布、生物样品的细胞细节等。放大倍数范围为 20 倍至 10 万倍，可根据观察需求灵活调节，从宏观形貌到微观细节实现连续观察。
设备的电子束流稳定性较好，长时间观察时图像漂移较小，保证了成像的一致性，便于进行图像拼接和定量分析。真空系统的抽气速度较快，从大气压到高真空状态所需时间约为 5 分钟，缩短了样品准备时间，提高了工作效率。
成像模式丰富，包括二次电子成像和背散射电子成像。二次电子成像适合观察样品表面的形貌特征，背散射电子成像则可用于分析样品的成分分布差异，两种模式可通过按键快速切换，满足不同的分析需求。
用材、参数与用途
ZEM20 的关键部件选用耐用材料，电子枪灯丝采用钨丝材质，使用寿命较长，更换方便；物镜和聚光镜的镜片采用光学玻璃制成，经过多层镀膜处理，减少电子束的反射损失；样品台表面覆盖陶瓷涂层，耐高温且不易划伤。
部分参数如下：
该设备广泛应用于材料科学、生物学、地质学、电子工业等领域。在材料科学中，可观察金属材料的断口形貌、高分子材料的相结构；生物学领域适用于观察生物切片、微生物的表面形态；电子工业中用于检测半导体芯片的表面缺陷和线路结构。
使用说明
使用前需检查设备电源连接是否正常，打开主电源开关，让设备预热 30 分钟，待电子枪和真空系统稳定后再进行操作。将处理好的样品用导电胶固定在样品台上，确保样品与样品台良好接触，防止充电影响成像质量。
打开样品室门，将样品台放入样品室并固定，关闭样品室门后，启动真空系统，选择合适的真空模式（高真空或低真空）。待真空度达到设定值后，通过操作手柄移动样品台，将观察区域对准电子束照射位置。
在显示屏上调节加速电压、放大倍数、亮度和对比度，直至获得清晰的图像。观察过程中，可通过数据输出接口将图像保存至电脑，或直接打印。观察结束后，先降低加速电压，关闭电子枪，再关闭真空系统，待样品室气压恢复至大气压后，打开样品室门取出样品。
日常维护需定期清洁样品室和样品台，每月检查一次真空系统的密封性，每半年更换一次真空泵油，确保设备长期稳定运行。
ZEM20 台式扫描电子显微镜以其紧凑的设计、稳定的成像性能和广泛的用途，为微观形貌分析提供了实用的解决方案，是实验室进行微观研究的得力工具。
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