布鲁克轮廓仪：电子元件检测的可靠伙伴
在电子元件生产领域，精准把握产品表面形态与尺寸参数，是保障产品质量的关键。布鲁克三维光学轮廓仪 ContourX-100 凭借先进的光学测量技术与稳定的性能表现，成为电子元件检测环节的实用工具。
一、产品细节
ContourX-100 采用紧凑型设计，机身尺寸为 450mm×500mm×600mm，重量约 55kg，适合在电子车间的工作台面放置。机身框架选用高强度铸铁材质，经过时效处理减少形变，能降低车间设备震动对测量的影响。外壳采用冷轧钢板喷涂工艺，表面形成耐磨防腐涂层，可抵御车间常见的灰尘与轻微液体溅落。
操作面板配备 15 英寸高清触控屏，界面布局清晰，支持手势缩放与拖拽操作，方便操作人员快速定位测量区域。设备内置 LED 环形光源，亮度可在 10% - 100% 范围内调节，能根据电子元件的反光特性调整光照强度，避免强光反射干扰测量。样品台尺寸为 200mm×150mm，采用精密导轨设计，支持 X、Y 轴手动微调，微调精度达 0.01mm，可精准移动小型电子元件至测量视野中心。
二、产品性能
该设备采用白光干涉测量技术，通过分析光的干涉条纹获取样品表面三维形貌数据，无需接触样品表面，适合检测易损电子元件如芯片、电路板焊点等。测量过程中，光学系统可捕捉纳米级高度变化，能清晰呈现元件表面的微小凸起、凹陷与划痕。
其垂直测量范围为 0.1nm - 10mm，水平分辨率达 0.5μm，可满足电子元件从微观结构到宏观尺寸的测量需求。例如，在检测芯片引脚的高度差时，能稳定获取微米级的测量数据。设备的测量重复性良好，同一位置多次测量的偏差控制在较小范围内，确保批量检测结果的一致性。
三、用材与参数
核心光学部件采用优质材料制造，物镜镜片选用低色散光学玻璃，经过多层镀膜处理，减少光线反射损失，提升成像清晰度。干涉仪核心部件采用陶瓷材质，具有良好的温度稳定性，降低环境温度波动对测量的影响。
以下为 ContourX-100 电子元件检测场景主要参数表：
四、用途与使用说明
在电子领域，ContourX-100 可用于检测芯片表面平整度、电路板焊点高度、连接器插针磨损程度等。通过获取三维形貌数据，帮助工程师分析生产工艺缺陷，优化制造流程。
使用时，先连接电源并开机，设备自动完成光学系统自检，约 30 秒后进入待机状态。将电子元件放置在样品台上，调整样品台使元件待检测区域位于镜头正下方。在触控屏上选择合适的物镜倍率（可选 5×、10×、20×），设置测量区域大小与扫描速度，点击 “开始测量" 按钮。设备将自动采集数据并生成三维轮廓图像，测量完成后可直接导出数据或进行离线分析。
布鲁克 ContourX-100 以实用的设计与稳定的性能，为电子元件检测提供了可靠的测量支持，助力企业提升产品质量控制水平。
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