材料科学研究中，深入了解材料表面的微观形貌、粗糙度与结构特征，对探究材料性能至关重要。布鲁克三维光学轮廓仪 ContourX-100 凭借非接触式测量优势与精细的数据分析能力，成为材料表面研究的实用设备。
一、产品细节
ContourX-100 机身采用模块化设计，主要由光学测量单元、样品台与控制终端组成，各模块连接稳固，便于日常维护。光学测量单元外壳采用铝合金精密压铸，重量轻且刚性好，内部光学元件通过防震支架固定，减少移动设备时的震动影响。
样品台采用大理石台面，具有低导热性与高稳定性，可降低环境温度变化对样品放置的影响。台面配备可调节夹具，能固定尺寸在 5mm - 100mm 范围内的材料样品，夹具接触面覆盖硅胶垫，避免划伤样品表面。控制终端内置高性能处理器，支持快速数据运算，可在测量完成后 10 秒内生成三维图像。
二、产品性能
该设备采用共聚焦与白光干涉复合测量模式，可根据材料特性切换测量方式。对于粗糙金属表面，选用白光干涉模式能获取更丰富的微观结构数据；对于透明薄膜材料，共聚焦模式可清晰呈现层间结构。
垂直测量分辨率达 0.1nm，能捕捉材料表面纳米级的起伏变化，如金属腐蚀坑的深度、薄膜表面的褶皱高度等。水平测量范围最大可达 10mm，可兼顾微观局部与宏观整体的表面分析。设备支持多种粗糙度参数计算（如 Ra、Rz、Rq），计算结果与标准样板的偏差在可接受范围内，满足材料研究的精度需求。
三、用材与参数
核心光学部件选用高品质材料，干涉仪分光镜采用石英材质，具有良好的透光性与化学稳定性，确保光信号传输稳定。物镜组采用多片式镜片组合，通过精密光学设计矫正像差，提升成像质量。样品台导轨采用不锈钢材质，表面经过精密研磨，滑动顺畅且磨损小，使用寿命长。
以下为 ContourX-100 材料研究场景主要参数表：
四、用途与使用说明
在材料研究中，ContourX-100 可用于金属材料磨损表面分析、陶瓷材料烧结后的表面平整度检测、高分子薄膜的厚度均匀性评估等。通过三维形貌数据，帮助研究人员分析材料制备工艺与表面性能的关联。
使用时，先开机预热 30 分钟，确保光学系统稳定。将材料样品固定在样品台上，根据样品尺寸与表面特征选择合适的物镜。在软件中设置测量参数，如扫描步长（可选 0.1μm - 1μm）、测量区域（最大 10mm×10mm），启动测量程序。设备将自动完成扫描并生成三维图像，可通过软件进行粗糙度计算、截面分析等操作，数据可导出至 Excel 或专业绘图软件进一步处理。
布鲁克 ContourX-100 以灵活的测量模式与可靠的数据分析能力，为材料表面研究提供了全面支持，助力科研人员获取精准的实验数据。
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