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Sensofar光学轮廓仪:三维表面测量新选择

产品简介

Sensofar光学轮廓仪:三维表面测量新选择
在工业计量与质量控制领域,对产品表面进行三维形貌测量是一项常见且重要的需求。Sensofar S lynx2 三维光学轮廓仪为此类应用提供了一个经济实用的选择。它集成了共聚焦和白光干涉两种测量技术,能够适应多种不同的表面特性,满足从研发到生产线的多种场景需求。

产品型号:
更新时间:2025-09-15
厂商性质:代理商
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Sensofar光学轮廓仪:三维表面测量新选择

在工业计量与质量控制领域,对产品表面进行三维形貌测量是一项常见且重要的需求。Sensofar S lynx2 三维光学轮廓仪为此类应用提供了一个经济实用的选择。它集成了共聚焦和白光干涉两种测量技术,能够适应多种不同的表面特性,满足从研发到生产线的多种场景需求。

S lynx2的设计注重实用性与稳定性。其机身结构采用了优质合金材料,保证了仪器的刚性和长期使用的稳定性,有效减少了环境振动带来的测量误差。工作台面经过精密加工,为样品提供了平稳的放置平台。仪器外观紧凑,占地面积小,非常适合放置在办公桌或产线旁的测量工作站中。

在核心性能方面,S lynx2的共聚焦模式适用于测量从光滑到极度粗糙的表面,甚至是高倾斜角的表面。而它的白光干涉模式则擅长于测量亚纳米级到微米级光滑表面的台阶高度和形貌。两种技术通过软件智能切换,用户无需手动更换部件,提升了测量效率。

其参数表现均衡,例如在垂直分辨率方面,共聚焦模式可达纳米级别,白光干涉模式可达亚纳米级别。横向分辨率则与所选物镜的放大倍数相关,最高可达约0.3微米。测量速度方面,它能在数秒至一分钟内完成一次三维扫描,具体时间取决于所选区域大小和分辨率。

S lynx2的型号配置灵活,用户可以根据主要的测量需求(如更侧重粗糙度还是纳米级薄膜台阶)来选择不同的物镜套组。无论是金属、陶瓷、半导体、聚合物还是透明材料,它都能提供相应的测量解决方案。

使用S lynx2的过程较为简便。通过随机附带的专业控制软件,用户可以轻松设置测量区域、选择测量模式、调整焦距。完成扫描后,软件内置的分析工具可快速提供粗糙度、台阶高、体积、面积等一系列参数,并生成直观的三维形貌图、二维轮廓线等结果,辅助用户进行高效决策。

 



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