细节呈现：泽攸ZEM20Pro台式扫描电镜性能

要深入了解一款扫描电镜，性能参数是重要的参考依据。泽攸ZEM20Pro台式扫描电镜在紧凑的机身内，整合了多项实用性能，满足日常微观观测的多种需求。

成像分辨率是电镜的核心指标。ZEM20Pro在高加速电压下可实现30纳米的分辨率，这意味着它能够清晰呈现大多数微米及亚微米级别的精细结构，如材料表面的孔隙、裂纹、涂层均匀性，或生物样品的表面特征。其放大倍数范围从10倍到10万倍连续可调，为用户从宏观定位到微观聚焦提供了平滑过渡的观察体验。

电子光学系统是成像质量的基础。ZEM20Pro采用三级电磁透镜进行电子束汇聚，光路结构有助于获得较小的束斑尺寸，从而提升图像锐度。其真空系统采用分子泵与隔膜泵组合，能较快达到工作所需真空度，减少等待时间，提高工作效率。

在探测系统方面，设备标配的二次电子（SE）探测器用于获取表面形貌衬度图像，是观察样品凹凸起伏的主力；背散射电子（BSE）探测器则对原子序数差异敏感，可用于区分样品表面上不同化学成分的区域，是进行初步成分分析的实用工具。

型号： ZEM20Pro

关键性能参数：

• 分辨率： 30 nm (30kV)

  
  

• 放大倍数： 10 - 100,000 x

  
  

• 加速电压： 0.5, 1, 5, 10, 15, 20, 30 kV (多档可选)

  
  

• 电子枪： 高亮度预对中钨灯丝

  
  

• 探测器： 二次电子探测器、背散射电子探测器

  
  

这些性能配置使得ZEM20Pro能够应用于多项任务：在电子行业中观察PCB焊点缺陷、芯片结构；在材料领域分析合金相分布、断口形貌；在地质研究中观察矿物晶体形态；在生物领域观察花粉、细胞、毛发等样品的表面结构。使用时，根据样品的导电性和耐电子束轰击能力，选择合适的加速电压和探针电流是获得理想图像的关键。