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探微知著:泽攸ZEM20台式电镜简介

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探微知著:泽攸ZEM20台式电镜简介
在材料科学、生物研究、电子元器件等众多领域,观察样品的微观结构是一项基础而重要的工作。传统的光学显微镜由于分辨率限制,难以满足纳米尺度的观测需求。泽攸科技的ZEM20台式扫描电子显微镜(SEM),为实验室和生产线提供了一种较为便利的微观观测方案。

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更新时间:2025-10-13
厂商性质:代理商
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探微知著:泽攸ZEM20台式电镜简介

在材料科学、生物研究、电子元器件等众多领域,观察样品的微观结构是一项基础而重要的工作。传统的光学显微镜由于分辨率限制,难以满足纳米尺度的观测需求。泽攸科技的ZEM20台式扫描电子显微镜(SEM),为实验室和生产线提供了一种较为便利的微观观测方案。

ZEM20是一款设计紧凑的台式扫描电镜,它打破了传统落地式电镜对场地和环境的高要求。其整体尺寸小巧,可以轻松安置于标准实验台上,无需特殊的安装基础。仪器外观简洁,操作界面直观,旨在降低用户的学习和使用门槛。

在核心性能方面,ZEM20采用了热发射电子枪作为电子源,提供了稳定的发射电流。其分辨率指标优于3.5纳米(30kV下),这意味着它能够清晰展示大多数细菌的形态、纳米材料的轮廓、金属断口的细节等。加速电压在1kV至30kV范围内可调,用户可以根据样品的性质(如导电性、耐电子束损伤能力)灵活选择,实现对导电、非导电及部分敏感样品的观测。

考虑到使用的便利性,ZEM20配备了*的真空系统。其样品室抽真空时间较短,从放入样品到获得图像,准备流程简洁。样品台可进行五轴移动(X, Y, Z, 倾斜,旋转),方便用户快速定位感兴趣的区域。样品仓室设计合理,最大可容纳直径达100毫米的样品,为观测不同尺寸的样品提供了灵活性。

泽攸ZEM20不仅是一台观测设备,更是一个开放的微观分析平台。标准配置下包含高效率和背散射电子探测器,可以同时获取样品表面形貌和成分衬度信息。用户还可根据后续需求,选配能谱仪(EDS)等附件,实现样品微区元素的定性定量分析,拓展其应用范围。

总而言之,泽攸ZEM20台式扫描电镜以其适中的性能、紧凑的设计和便捷的操作,为众多需要进入微观世界的用户打开了一扇窗。

ZEM20 基本参数表

项目参数
型号ZEM20
电子枪类型热发射电子枪
分辨率3.5 nm (30kV)
加速电压1 kV - 30 kV (可调)
放大倍数10x - 200,000x
样品台五轴马达驱动
样品尺寸最大直径 100 mm
真空系统分子泵系统
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