泽攸台式扫描电镜:纳米材料表征的桌面利器

泽攸ZEM20Ultro台式场发射扫描电子显微镜是专为科研与工业场景设计的紧凑型高分辨率成像设备，其核心参数覆盖广泛的应用需求。设备采用冷场发射电子枪，曲率半径小于10nm的钨单晶针尖可稳定发射高亮度电子束，使用寿命超2000小时。加速电压范围3kV-20kV连续可调，1kV步进，在30kV时分辨率达1.5nm，1kV时为10nm，可清晰捕捉纳米级微观结构。放大倍数范围200-360,000倍，适配从宏观全貌到纳米细节的观测需求。

样品台采用五轴全自动设计，X/Y/Z三轴行程分别达90mm/50mm/32mm，旋转角度360°，倾斜范围-10°-90°，移动精度1μm。配合光学CCD导航与舱内摄像头，可实现快速精准定位。真空系统支持高真空（≤1×10⁻⁵Pa）与低真空（1-100Pa）双模式，高真空模式抽真空时间小于30秒，低真空模式可无需镀膜直接观测非导电样品，避免传统设备因镀膜掩盖缺陷的问题。

泽攸ZEM20Ultro台式场发射扫描电子显微镜凭借高分辨率成像能力与灵活样品适配性，成为纳米材料研发领域的核心工具。设备采用冷场发射电子枪，30kV加速电压下分辨率达1.5nm，1kV下为10nm，可清晰捕捉金纳米颗粒（粒径5-50nm）、碳纳米管（管径2-10nm）等样品的微观形貌。其五轴全自动样品台支持X/Y/Z三轴电动移动，行程50mm×50mm×20mm，移动精度1μm，适配块状、粉末、薄膜等多种形态样品。低真空模式（1Pa-100Pa）无需镀膜即可直接观测非导电样品，避免传统设备因镀膜掩盖缺陷的问题。设备尺寸850mm×650mm×1000mm，重量约120kg，适配普通实验台，无需特殊防震装置，降低实验室空间与成本门槛。