泽攸ZEM20扫描显微镜附件系统详解

泽攸ZEM20扫描显微镜附件系统详解

ZEM20支持丰富的附件系统，扩展了其应用范围。原位实验附件包括拉伸台，可在观察样品的同时施加拉伸力，实时记录材料变形和断裂过程。加热台最高工作温度可达1200℃，配合高温样品座，可观察材料在加热过程中的相变、烧结等动态变化。冷却台使用半导体制冷，低温度可达-40℃，适用于低温条件下的样品观察。

分析附件中常用的是能谱仪（EDS）。ZEM20预留了标准的能谱接口，可安装硅漂移探测器（SDD），实现元素定性、定量分析。探测器通常配备氮化硅窗口，可检测硼（B）以上元素。部分型号还支持波谱仪（WDS）安装，提供更高的能量分辨率。

特殊样品处理附件包括离子溅射仪，用于样品表面金属镀膜，改善非导电样品的观察效果。临界点干燥仪专门用于生物样品制备，避免表面张力对细微结构的破坏。冷冻断裂装置可在液氮温度下断裂样品，暴露内部结构供观察。

ZEM20支持丰富的附件与原位拓展系统。可选配的原位附件包括SEM芯片加热台、SEM加热炉、SEM电池台、液体电化学台、气体台、拉伸台、TEC冷台、液氮冷台、电学探针台及通光系统等。这些附件使ZEM20能够进行动态原位实验，如拉伸测试、加热反应、电化学分析等。设备还可集成能谱仪（EDS），用于微区成分分析。EDS探测器通常为氮化硅窗口，元素探测范围从硼（B）到镅（Am）。另外，减速模式可作为选配功能（部分资料称为标配），帮助直接观察非导电样品。所有附件均通过统一软件平台控制，实现工作流一体化。

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