泽攸电镜集成化分析的电镜系统 在半导体行业，EM2000 可用于芯片表面的缺陷检测，快速定位划痕、污染等问题；在材料科学领域，能观察复合材料的界面结构，分析相分布情况；在地质研究中，可识别矿物颗粒的微观形态，辅助矿物鉴定。其高效的工作能力与精准的成像效果，为各领域的研究与生产提供了有力支持。

泽攸电镜兼顾效率与细节的电镜 在半导体行业，EM2000 可用于芯片表面的缺陷检测，快速定位划痕、污染等问题；在材料科学领域，能观察复合材料的界面结构，分析相分布情况；在地质研究中，可识别矿物颗粒的微观形态，辅助矿物鉴定。其高效的工作能力与精准的成像效果，为各领域的研究与生产提供了有力支持。

泽攸电镜微观世界的清晰窗口 泽攸 电镜作为一款基础型扫描电镜，在材料表面观察领域有着广泛的应用。其核心电子光学系统采用高品质磁透镜，通过多层线圈缠绕技术，形成均匀的磁场分布，为电子束的聚焦提供稳定条件。

样品处理与制备：ZEM系列台式电镜 泽攸电镜的JS系列台阶仪是进行纳米尺度表面轮廓和膜厚测量的工具。它与扫描电镜技术相结合，可提供多维度的样品信息。

原位实验方案：ZEM系列台式电镜介绍 泽攸电镜的JS系列台阶仪是进行纳米尺度表面轮廓和膜厚测量的工具。它与扫描电镜技术相结合，可提供多维度的样品信息。

纳米尺度分析：ZEM系列台式电镜介绍 泽攸电镜的JS系列台阶仪是进行纳米尺度表面轮廓和膜厚测量的工具。它与扫描电镜技术相结合，可提供多维度的样品信息。