泽攸：多材质样品检测台阶仪 在半导体元件研发、航空航天配件制造、新型材料实验等场景中，样品材质多样（如金属、陶瓷、薄膜、生物材料），对测量模式的适配性要求更高，单一测量原理的台阶仪难以满足全场景需求。泽攸全自动台阶仪 JS3000B 凭借接触式与光学式双测量模式、适配多材质的设计，成为这类复杂场景的实用工具，帮助用户完成不同材质样品的台阶高度、厚度等检测任务，减少设备更换频率。

泽攸：电子元件批量检测台阶仪 在小型电子厂元件抽检、五金作坊配件尺寸检查、高校基础实验教学等场景中，无需复杂功能的台阶仪，更需要操作简单、成本可控且能满足基础测量需求的设备。泽攸半自动台阶仪 JS100B 凭借简洁设计、稳定的基础表现，成为这类场景的实用选择，帮助用户高效完成台阶高度、薄膜厚度等日常检测任务。

泽攸：小企业抽检实用半自动台阶仪 在小型电子厂元件抽检、五金作坊配件尺寸检查、高校基础实验教学等场景中，无需复杂功能的台阶仪，更需要操作简单、成本可控且能满足基础测量需求的设备。泽攸半自动台阶仪 JS100B 凭借简洁设计、稳定的基础表现，成为这类场景的实用选择，帮助用户高效完成台阶高度、薄膜厚度等日常检测任务。

泽攸 ZEM20：工业研发显微表征平台 制造业的研发环节（如半导体、航空航天、医疗器械），对产品微观结构的超高分辨率表征与多维度分析是提升产品性能、突破技术瓶颈的关键。泽攸台式扫描电子显微镜 ZEM20，凭借性能与强大的扩展能力，成为工业研发的核心显微表征平台。

泽攸 ZEM20：科研显微研究平台 在高校重点实验室、科研机构的研究中，对微观结构的超高分辨率分析与多维度表征是突破科研瓶颈的关键。泽攸台式扫描电子显微镜 ZEM20，凭借性能与丰富的扩展功能，成为开展前沿微观研究的高级平台。

泽攸 ZEM18：科研机构微观分析利器 对于经费有限、空间紧张的小型科研团队或初创企业，泽攸台式扫描电子显微镜 ZEM15 以其高性价比与易维护性，成为微观分析工作的实用工具，助力完成基础科研与产品研发中的显微观察任务。