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更新时间:2026-01-05
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探索Sensofar光学轮廓技术 Sensofar Metrology作为光学测量领域的参与者,其S neox和LIN系列三维光学轮廓仪集成了多种光学测量技术,包括共聚焦、白光干涉(VSI)和相移干涉(PSI),为微观表面的三维形貌测量提供了多样的解决方案。
更新时间:2026-01-05
产品型号:
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详解布鲁克ContourX系列轮廓仪核心技术 布鲁克ContourX系列三维光学轮廓仪的测量能力,源于其核心的白光干涉技术(WLI)和稳健的机械设计。理解这些技术细节,有助于用户更好地发挥仪器的潜能。
更新时间:2026-01-05
产品型号:ContourX-100
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布鲁克ContourX轮廓仪专注高效小样品检测 在需要处理较大型工件的研发与质量检测环节,对测量设备的样品容量提出了要求。布鲁克ContourX-100三维光学轮廓仪正是为满足此类需求而设计。
更新时间:2026-01-05
产品型号:ContourX-100
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布鲁克ContourX系列轮廓仪平衡性能与灵活性 在需要处理较大型工件的研发与质量检测环节,对测量设备的样品容量提出了要求。布鲁克ContourX-500三维光学轮廓仪正是为满足此类需求而设计。
更新时间:2026-01-05
产品型号:ContourX-200
浏览量:240
布鲁克ContourX 轮廓仪应对大尺寸样品测量 在需要处理较大型工件的研发与质量检测环节,对测量设备的样品容量提出了要求。布鲁克ContourX-500三维光学轮廓仪正是为满足此类需求而设计。
更新时间:2026-01-05
产品型号:ContourX-500
浏览量:255