Sensofar共聚焦白光干涉捕捉细微结构轮廓仪
一、精细检测：不放过微小表面细节
在检测微小样品（如芯片引脚、微型齿轮、光学薄膜）时，传统轮廓仪常因分辨率不足，难以清晰呈现微米级甚至纳米级的表面结构，而 Sensofar S lynx2 依托三维共聚焦白光干涉技术，能精准捕捉这类细微特征，为精密检测提供支持。
比如检测芯片上直径仅几十微米的键合线时，S lynx2 可清晰呈现键合线的弧度、表面光滑度，甚至能识别线体上细微的划痕或凸起，这些细节直接关系到芯片的导电性能与稳定性。传统设备可能需要放大多次才能勉强观察，而 S lynx2 通过优化的光学系统，一次扫描就能生成键合线的 3D 形貌图，直观展示其表面状态，不用反复调整焦距或切换视野。
针对光学薄膜检测，S lynx2 同样表现出色。几微米厚的增透膜，其表面平整度与厚度均匀性会影响光学性能，设备可通过非接触方式，同时获取薄膜的厚度数据与表面粗糙度信息，避免接触测量导致的薄膜损伤。检测时，软件会自动生成厚度分布曲线，标注厚度偏差较大的区域，帮助技术人员判断薄膜沉积工艺是否需要调整。
二、用材与结构：稳定支撑精细检测
为保障精细检测的稳定性，S lynx2 在核心部件用材与结构设计上做了针对性优化。光学镜头采用高透光率光学玻璃，搭配多层镀膜工艺，减少光线反射损耗，确保成像清晰；镜头表面覆盖防刮涂层，日常清洁时不易留下划痕，延长使用寿命。
设备机身采用刚性合金框架，能有效减少外界振动对检测的影响 —— 比如在车间环境中，周围设备运行产生的轻微振动，不会导致 S lynx2 的检测数据偏移，无需额外搭建防震平台。样品台选用耐磨陶瓷材质，表面光滑平整，放置样品时不易产生划痕，同时具备良好的稳定性，即使微小样品轻微偏移，软件的 “自动定位" 功能也能快速修正。
光源模块采用长寿命白光 LED，发光稳定且光谱范围适配共聚焦检测需求，正常使用下多年无需更换，减少耗材支出与停机维护时间。
三、基础参数与使用说明
（1）核心参数表
（2）基础使用步骤
样品准备：将样品轻轻放在样品台中心，确保样品表面无明显污渍（若有污渍，用无尘布轻轻擦拭）；
参数设置：打开配套软件，根据样品材质（如金属、玻璃）选择预设的检测模式，软件会自动匹配合适的光源强度与扫描速度；
定位与扫描：点击 “自动对焦" 按钮，设备自动定位样品检测区域，确认区域无误后，点击 “开始扫描"，扫描过程中无需手动干预；
数据查看与导出：扫描完成后，软件自动生成 3D 形貌图与检测数据，可通过 “标注工具" 标记重点区域，数据支持导出为 Excel、PDF 格式，方便后续分析。
无论是电子行业的微型元件检测，还是光学行业的薄膜研究，Sensofar S lynx2 都能通过精细的检测能力与稳定的性能，成为精密测量场景中的实用工具，帮助用户清晰掌握微小样品的表面状态。Sensofar共聚焦白光干涉捕捉细微结构轮廓仪
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