Sensofar S wide联动多设备，检测更顺畅
一、与显微镜联动：宏观扫描 + 微观观察无缝衔接
在精密检测中，常需要先通过大视野掌握样品全局状态，再聚焦局部做微观观察，Sensofar S wide 能与光学显微镜实现无缝联动，省去样品转移的麻烦，让检测流程更连贯。
比如检测大尺寸半导体晶圆时，先用 S wide 做全局扫描，快速定位表面存在缺陷的区域（如划痕、凸起），并在软件中标记这些区域的坐标；随后无需移动晶圆，直接通过联动功能将显微镜镜头对准标记坐标，就能清晰观察缺陷的微观形态（如划痕的横截面结构、凸起的材质细节）。整个过程不用反复转移样品，既避免了样品移位导致的定位偏差，又节省了 “全局找区 + 微观观察" 的衔接时间，尤其适合需要同时获取全局分布与微观细节的检测场景。
对光学镜片检测而言，这种联动同样实用：先用 S wide 扫描镜片整体平整度，找到平整度超差的区域；再通过显微镜观察该区域的微观结构，判断是打磨瑕疵还是材质杂质导致的超差，为后续工艺调整提供更全面的依据，不用在两台设备间反复切换样品。
二、与生产管理系统对接：检测数据直连产线
在生产车间，检测数据需要及时反馈给产线，才能快速调整工艺、减少不合格品，S wide 支持与常见的生产管理系统（如 MES 系统）直接对接，实现数据自动流转，不用人工录入。
以汽车零部件生产为例，检测大型车门模具时，S wide 完成扫描后，会自动将模具型腔的平整度数据、缺陷位置信息同步至生产管理系统；系统实时统计该批次模具的合格率，若合格率低于设定标准，立即向生产部门推送预警，并附上具体缺陷数据（如某区域凹陷超差）。生产人员查看系统后，可快速调整模具加工参数，避免后续生产更多不合格模具。整个过程无需质检人员手动导出数据、填写报表，既减少了人工误差，又缩短了数据从检测到产线调整的时间，让质量控制更及时。
对电子行业的大尺寸电路板生产而言，数据对接同样能提升效率：S wide 将电路板的元件高度、焊点状态等数据同步至系统后，系统可自动对比不同批次的数据，若发现某批次元件高度偏差突然增大，立即排查贴装设备参数，避免批量不合格品流入下游环节。
三、与数据分析软件兼容：数据深度应用
除了自带的数据分析功能，S wide 还支持与第三方数据分析软件（如 CAD 设计软件、统计学分析工具）兼容，让检测数据能根据需求做深度处理，拓展应用场景。
在产品设计环节，可将 S wide 的检测数据导入 CAD 软件，与设计模型做精准对比：比如设计大型机械外壳时，导入外壳样品的检测数据后，CAD 软件会自动标记实际样品与设计模型的偏差区域，清晰呈现 “哪里尺寸不符、偏差多少"，设计人员可直接根据这些数据优化图纸，不用再手动对照数据表格修改设计，提升优化效率。
科研领域需要对大量数据做统计分析时，S wide 导出的数据可直接导入统计学软件：比如研究不同工艺下大尺寸复合材料的表面粗糙度，将多组样品的检测数据导入软件后，可快速生成粗糙度分布曲线、标准差等统计结果，帮助科研人员判断哪种工艺更优，不用手动整理数据、绘制图表，减少重复工作量。
无论是与显微镜的 “全局 + 微观" 联动，还是与生产系统、分析软件的 “数据流转 + 深度应用" 协同，Sensofar S wide 都能打破不同设备间的信息壁垒，融入用户现有的检测与工作流程，让多设备配合更顺畅，进一步释放大视野测量的价值，成为提升整体工作效率的实用搭档。Sensofar S wide联动多设备，检测更顺畅
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