纳米尺度分析：ZEM系列台式电镜介绍 泽攸电镜的JS系列台阶仪是进行纳米尺度表面轮廓和膜厚测量的工具。它与扫描电镜技术相结合，可提供多维度的样品信息。

高分辨成像：ZEM系列台式电镜介绍 对于寻求高分辨成像能力的用户，泽攸电镜的ZEM系列台式扫描电镜将高性能融入小巧的机身中。该产品减少了用户对大型设备空间的依赖。

泽攸透射电镜：探索微观世界 泽攸电射推出的PicoScan系列扫描电镜（SEM），为材料科学、生物医学和纳米技术研究提供了一种观察工具。该系列电镜设计紧凑，适合实验室环境。

泽攸原位电镜MEMS系统技术解析方案泽攸透射电镜原位MEMS系统是一套专为透射电子显微镜设计的微机电实验平台，旨在实现对材料在多种外场激励下的实时动态观测。该系统通过精密的微纳加工技术，为材料科学研究提供了原位实验的解决方案。

泽攸原位MEMS：动态电镜观测新方案在材料科学、纳米技术和生命科学等领域，透射电子显微镜（TEM）是观察材料微观结构的重要工具。而原位实验技术的进步，使得研究人员能够在原子尺度下实时观察材料在外界刺激（如加热、拉伸、电场等）下的动态变化。泽攸科技推出的透射电镜原位MEMS（微机电系统）技术，为这一研究方向提供了新的实验手段。

泽攸ZP3-4微纳探针台是一款适用于微纳器件电学性能测试的精密仪器，主要服务于半导体器件、纳米材料和微电子机械系统（MEMS）等领域的研究与测试需求。该系统采用模块化设计理念，可满足不同规格样品的测试要求。泽攸ZP3-4微纳探针台精密电学测量平台