Sensofar S neox高精度工业三维检测新时代

在微纳米尺度上，表面形貌的精确测量已成为制造和科研突破的关键瓶颈。传统测量设备在面对复杂材质、陡峭斜率或跨尺度粗糙度时，往往陷入精度不足、效率低下或模式切换繁琐的困境——直到Sensofar S neox三维共聚焦白光干涉光学轮廓仪的出现，重新定义了表面测量的可能性边界。

一、多技术融合：传统的测量范式

S neox的革命性突破在于创造性地将共聚焦显微镜、白光干涉仪和相位差干涉仪三大精密测量技术集成于单一平台。这种“三合一"设计摆脱了传统设备需手动更换硬件模块的束缚，用户仅需轻点软件界面，即可在毫秒间实现测量模式的智能切换。这一创新不仅大幅提升工作效率，更使用户以单台设备的投入，同时获得三类顶级仪器的测量能力，显著降低综合成本。137

更值得关注的是其Ai多焦面叠加技术，作为第四种核心测量模式，专为攻克大粗糙度表面而研发。通过主动照明与智能算法协同，它能在毫米/秒级速度下完成高斜率表面（最高支持86°倾角）的精准捕获，解决了传统共聚焦在低倍率下测量粗糙表面的技术盲区，特别适用于模具、铸造件等工业场景。148

二、性能：纳米世界的超清视野

横向分辨率达0.10μm：在150倍高数值孔径镜头（NA 0.95）支持下，共聚焦模式展现出超越光学显微镜的横向分辨能力，可清晰解析微电子器件的临界尺寸，即使面对70°光滑斜面或86°粗糙陡坡，仍能保持纳米级的Z轴重复性精度。156

亚纳米级纵向分辨率：相位差干涉模式专为超光滑表面设计，即使使用2.5倍镜头进行大视场测量，仍能稳定输出亚纳米级分辨率数据，为光学元件、晶圆表面提供测量保障。17

白光干涉全场纳米精度：无论放大倍数如何变化，白光干涉模式始终保持纳米级纵向分辨率，成为各类材料表面形貌分析的通用利器。26

三、速度革命：180 fps重新定义检测效率

S neox搭载新一代智能算法与高性能相机，将数据采集速度推至惊人的180帧/秒，比前代设备快5倍以上，堪称快的区域测量系统之一。这种速度优势在批量检测场景中尤为突出——例如在汽车制造业中，单个模具的完整三维形貌可在数分钟内完成采集分析，真正实现工业级高通量检测。48

四、全场景覆盖：从实验室到生产线的力

材质普适性：金属、陶瓷、聚合物、生物组织...无论样品光学特性如何变化，S neox几乎覆盖所有类型表面的形貌测量需求16

跨尺度测量：从亚纳米级薄膜厚度到毫米级粗糙度，从微米级芯片结构到12英寸晶圆，系统通过模块化平台设计（支持4-12英寸样品台）满足多样化尺寸需求357

真彩色还原技术：采用三色LED交替照明与像素级融合算法，生成高保真彩色共聚焦图像，相比传统像素插值技术，显著提升色彩还原真实性，为生物材料、涂层分析提供关键信息16

五、智能操作与精准追溯：体验与可靠性的双重保障

SensoSCAN软件系统以直观的交互界面降低操作门槛，即使新手用户也能快速完成专业级测量。针对工业质量控制场景，SensoPRO模块提供完整的自动化解决方案：从条形码识别、权限管理到程序存储和报告生成，支持7×24小时连续运行。48

为确保测量数据的全球可追溯性，每台设备出厂前均采用ISO 25178标准认证的参比样块进行校准，并随附完整计量报告。LED光源寿命长达50，000小时，较激光光源提升25倍，且避免激光散斑现象，保证设备在全生命周期内的测量稳定性。48

一台测量头，四维技术融合。S neox如同一位掌握多国语言的表面形貌翻译官，将共聚焦的锐度、干涉测量的精度、多焦面叠加的广度与真彩色的真实度融于一体，在纳米与毫米的尺度间架起无失真的沟通桥梁。

作为西班牙Sensofar公司二十年技术积淀的之作，S neox已在全球数百个实验室和生产线中发挥核心作用。无论您是研发原子层沉积的科学家，还是管控模具精度的工程师，或是分析生物材料表面的研究者，它都以亚纳米级的精准、毫米级的视野和革命性的效率，成为您探索微观世界的伙伴。

Sensofar S neox高精度工业三维检测新时代