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Sensofar S lynx 2光学轮廓仪、三维测量

产品简介

Sensofar S lynx 2光学轮廓仪、三维测量 的四合一测量技术堪称 S neox 的一大核心亮点。在其传感器头中,巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面叠加和膜厚测量等多种*测量技术。只需轻松点击一次,系统便能依据当前测量任务的具体需求,自动智能地切换到最为适配的优良技术。

产品型号:
更新时间:2025-07-14
厂商性质:代理商
访问量:121
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Sensofar S lynx 2光学轮廓仪、三维测量、技术革新精密测量新时代

在微纳制造与精密工程领域,表面形貌的精确表征已成为质量控制的核心环节。西班牙Sensofar推出的S lynx 2光学轮廓仪代表了当前非接触式3D表面测量技术的。该设备通过创新的光学架构和智能算法,实现了从纳米级到毫米级样品的高精度、高效率测量,为半导体、光学、医疗植入物等制造领域提供了革命性的检测解决方案。

核心技术突破

Sensofar S lynx 2光学轮廓仪、三维测量

1. 多模式光学测量系统

S lynx 2集成了三种*测量技术:

共聚焦显微技术:采用型针孔阵列设计,横向分辨率达0.3μm,特别适用于高反射金属表面测量

干涉显微技术:配备多波长相位解算算法,纵向分辨率突破0.05nm

聚焦变化技术:创新性地结合景深扩展与三维重建,可测量80°倾斜角结构

智能传感系统能根据表面特性自动切换测量模式,在单次扫描中完成复杂形貌的完整表征。

2. 革命性光学设计

双Z轴扫描系统:结合粗调与精调模块,扫描范围达15mm(可选配扩展至25mm)

智能物镜塔台:支持8组物镜自动切换,放大倍数从1.4X到100X连续可调

动态对焦补偿:采用实时闭环控制,振动环境下仍保持亚纳米级稳定性

行业应用实践

Sensofar S lynx 2光学轮廓仪、三维测量

1. 半导体制造

在3D NAND存储芯片生产中:

可测量128层堆叠结构的台阶高度(精度±0.3nm)

自动识别TSV通孔的填充缺陷

晶圆翘曲测量速度达传统AFM的20倍

2. 精密光学

某激光陀螺仪制造商应用案例:

同时检测镜面粗糙度(Sa<0.2nm)和面形误差(PV<λ/30)

镀膜厚度分布测量重复性达99.7%

自动生成符合ISO 10110标准的检测报告

3. 生物医疗

在人工关节表面处理优化中:

量化微孔结构的三维形貌参数

建立表面粗糙度与细胞粘附率的关联模型

实现植入物表面100%在线检测

智能测量系统

1. SensoMAP XT软件平台

AI辅助分析:深度学习算法自动分类表面缺陷

实时三维渲染:支持8K分辨率动态显示

多模态数据融合:可关联SEM、AFM等设备数据

云端数据库:支持10万+测量数据的智能管理

2. 自动化集成方案

机器人自动上下料接口

与MES系统无缝对接

支持定制化测量流程开发

性能参数对比

关键指标S lynx 2上代产品主要竞品

纵向分辨率0.05nm0.1nm0.15nm

最大视场12mm8mm10mm

测量速度20mm²/s10mm²/s15mm²/s

倾斜角测量80°70°60°

用户价值分析

效率提升:批量测量时间缩短60%

成本优化:集成多种测量功能,设备投资回报周期<12个月

质量管控:实现关键尺寸100%全检

研发加速:获得更全面的表面特征数据

Sensofar S lynx 2光学轮廓仪、三维测量

技术创新路线

Sensofar研发中心正在测试:

超快光学相干层析技术(OCT)

量子点标记增强检测

基于数字孪生的预测性维护系统

典型客户案例

某国际汽车零部件供应商采用S lynx 2后:

活塞环表面检测效率提升300%

成功识别出导致机油消耗异常的微米级纹理缺陷

年质量损失减少250万美元

总结

Sensofar S lynx 2通过突破性的光学设计和智能算法,重新定义了工业级表面测量的精度与效率标准。其模块化设计既满足实验室的科研需求,又能适应严苛的生产环境,正在成为制造领域质量控制工具。随着5G、人工智能等新技术的发展,这种智能测量平台将继续推动精密制造向更高水平迈进。

Sensofar S lynx 2光学轮廓仪、三维测量、技术革新精密测量新时代


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