泽攸台阶仪：纳米级形貌测量的创新之选

泽攸台阶仪：纳米级形貌测量的创新之选

在半导体制造、新材料研发与生物医疗领域，微观表面形貌的精准量化是推动技术迭代的核心要素。泽攸科技凭借多年技术沉淀，推出JS系列台阶仪，以模块化设计与自主创新技术，为科研与工业用户提供高适应性的形貌测量解决方案。

产品系列与核心参数

JS系列涵盖JS100B、JS200B、JS300B及全自动型号JS2000B，适配不同场景需求：

• 型号对比：

性能亮点：从硬件到算法的协同优化

1. 双LVDT传感器技术
   泽攸台阶仪采用自主研发的直立式双LVDT传感器，突破传统杠杆式结构局限。传感器1实时监测探针压力（恒力范围0.5-50mg），传感器2反馈压电陶瓷位移，实现“所测即所得"的线性测量，避免圆弧补偿误差。在钙钛矿薄膜厚度测量中，该技术可将35-40nm超薄层的重复性偏差控制在0.5nm以内。

2. 超平扫描台与动态调焦
   配备纳米光栅反馈系统与超光滑平晶导轨，扫描平整度达20nm/2mm，支持55mm长距离扫描。JS2000B型号集成正视/侧视高像素相机，结合主动聚焦技术，可在扫描前快速定位样品测试点，避免离焦导致的边缘失真，尤其适用于柔性电子器件的曲面扫描。

3. 多场景探针配置
   提供标准探针（曲率半径>2μm）与亚微米探针（曲率半径<1μm）两种选择。在MEMS陀螺仪表面波纹测量中，亚微米探针可捕捉曲率半径≤1μm的微观结构，同时通过动态力控避免损伤样品。

泽攸台阶仪：纳米级形貌测量的创新之选