在工业检测、材料研发、地质分析等对微观观察精度要求更高的场景中，台式扫描电子显微镜 ZEM18 凭借升级的光学系统与灵活的适配能力，成为众多专业用户的实用工具，既能满足科研需求，也能适配工业生产中的快速检测任务。
一、产品细节：兼顾精度与操作便捷性
ZEM18 延续了台式设计的紧凑优势，整体尺寸为 680mm×520mm×820mm，重量约 95kg，相较于 ZEM15 略有增加，但仍可放置在普通实验室操作台或工业车间的检测台上，无需额外改造场地。机身外壳采用改性 ABS 工程塑料，在原有基础上增加了抗静电涂层，能有效减少环境中静电对电子光学系统的干扰，尤其适合电子元件检测等对静电敏感的场景。
样品室进行了针对性优化，采用 304 不锈钢材质，厚度增加至 2mm，不仅提升了密封性，还能更好地抵御工业环境中的腐蚀性气体，延长设备使用寿命。样品室最大可容纳直径 70mm、高度 50mm 的样品，比 ZEM15 的容纳空间更大，可适配更大尺寸的工业零件，如小型机械配件、地质岩芯切片等。样品台升级为电动控制，支持 X 轴 ±30mm、Y 轴 ±30mm、Z 轴 60mm 的移动范围，且移动精度提升，通过操作面板的摇杆即可精准控制，避免手动调节可能出现的偏差。
操作界面升级为 7 英寸电容触控屏，支持多点触控，可通过手势缩放图像、调整参数，操作流畅度大幅提升。屏幕内置亮度自动调节功能，能根据环境光线强度调整显示效果，在明亮的车间或昏暗的实验室中，都能清晰查看图像与参数。设备接口更加丰富，除 USB3.0 与 HDMI 接口外，新增了以太网接口，支持设备接入局域网，实现多台设备的集中管理与数据共享，方便团队协作。
二、产品性能：升级配置提升观察效果
ZEM18 的电子光学系统采用 LaB₆（六硼化镧）灯丝电子枪，相较于 ZEM15 的钨灯丝，LaB₆灯丝具有更高的亮度与更长的使用寿命，在相同加速电压下，能生成更细的电子束，提升成像分辨率。加速电压范围扩展至 0.5kV～18kV，低电压段（0.5kV～8kV）的稳定性优化，对导电性差的样品（如塑料、陶瓷、生物组织）观察时，充电现象进一步减少，图像失真率降低；高电压段（8kV～18kV）则能穿透样品表面的氧化层，清晰呈现内部结构，适合金属材料的缺陷检测。
分辨率方面，ZEM18 在 30kV 加速电压下可达 2.0nm，1kV 低电压下可达 6.0nm，比 ZEM15 有明显提升。例如在观察半导体芯片的金线键合处时，能清晰分辨金线与芯片焊盘的连接细节，甚至可观察到金线表面的微小划痕；观察地质样品中的矿物颗粒时，能区分不同矿物的晶体形态与边界。扫描速度新增 “超慢扫" 模式，适合获取超高清晰度图像，用于发表科研论文或制作高精度检测报告；同时保留快扫、中扫模式，满足工业检测中的快速筛查需求。
探测器配置上，除二次电子探测器与背散射电子探测器外，ZEM18 可选配能量色散 X 射线谱仪（EDS），实现元素分析功能。搭配 EDS 后，不仅能观察样品形貌，还能检测样品表面的元素组成与分布，例如在金属材料检测中，可快速判断表面是否存在杂质元素，以及杂质的分布区域，为材料质量控制提供更全面的数据支持。
三、用材与参数：核心部件保障稳定性能
关键部件用材上，ZEM18 的电子透镜采用高纯度电工纯铁，经过多道精密磨削与真空退火处理，导磁性能更优，电子束聚焦精度提升，减少电子束在传输过程中的发散。样品台的导轨采用轴承钢材质，表面经过镀铬处理，硬度达到 HRC60 以上，耐磨性大幅增强，长期频繁使用后，仍能保持 ±0.005mm 的移动精度，确保样品定位准确。
以下为 ZEM18 的核心参数表：
四、用途与使用说明：覆盖科研与工业场景
ZEM18 的用途更为广泛，在工业检测领域，可用于汽车零部件的表面缺陷检测（如发动机零件的磨损痕迹、轴承的表面划痕）、电子元件的焊接质量检测（如芯片封装的引线键合缺陷）、塑料产品的注塑缺陷检测（如表面气泡、飞边）；在材料研发领域，能观察新型复合材料的微观结构（如纤维增强复合材料的纤维分布、界面结合情况），分析材料性能与微观结构的关联；在地质分析领域，可观察岩石、矿物的颗粒形态与组成，辅助判断地质成因；在生物医学领域，对经过冷冻干燥或临界点干燥的生物样品（如细菌、细胞、组织）进行高分辨率观察，助力微观生物学研究。
使用 ZEM18 时，流程如下：首先接通电源，打开设备总开关，真空系统会自动启动，标配的分子泵能快速将样品室真空度提升至 10⁻⁴Pa 以下，通常只需 5～8 分钟，比 ZEM15 的抽真空时间缩短；待真空度达标后，通过样品室门的观察窗确认样品台位置，打开样品室门，将预处理后的样品固定在样品台上（导电性差的样品仍需喷金，可选配设备自带的小型喷金仪），关闭样品室门，等待真空度再次达标；然后通过触控屏选择成像模式（如二次电子成像），设置加速电压与放大倍率，通过电动摇杆调整样品台，将待观察区域移至电子束扫描中心；最后点击 “开始扫描"，设备生成图像后，可通过触控屏进行亮度、对比度调节，满意后可通过 USB 接口导出图像，或通过以太网传输至电脑保存。
若选配 EDS 进行元素分析，需在成像界面中点击 “EDS 分析" 按钮，选择分析区域，设备会自动采集 X 射线信号，生成元素谱图与元素分布热力图，分析结果可与形貌图像一同保存，方便后续数据整理。使用过程中需注意，若样品含有挥发性成分，需提前进行烘干处理，避免真空系统污染；设备长期不使用时，需每周启动一次，运行 30 分钟，保持真空系统的密封性。
五、型号特点：适配检测需求
作为 ZEM 系列的中端型号，ZEM18 在性能上比 ZEM15 有明显升级，同时保持了台式设备的便捷性与经济性，适合对观察精度要求较高的高校重点实验室、中型企业研发中心、第三方检测机构等。其电动样品台与可选配的 EDS 功能，能满足更多复杂场景的检测需求，减少人工操作误差；快速抽真空系统则提升了检测效率，适合工业生产中的批量样品检测。
无论是科研人员进行材料微观结构研究，还是工业检测人员把控产品质量，ZEM18 都能提供稳定、清晰的成像效果与全面的数据支持，成为连接科研与工业应用的实用桥梁。
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