ZEM15泽攸电镜：桌面上的微观探索

在材料科学、生物研究、电子制造及教育等领域，对样品进行微纳米尺度的观察是一项基本需求。传统的大型扫描电子显微镜（SEM）往往对场地、环境和技术操作有相应要求。泽攸科技的ZEM15台式扫描电子显微镜，则提供了一种进入微观世界的方式。它集成了电子光学系统、真空系统和控制系统于一个紧凑的桌面尺寸机身内，降低了用户的使用门槛。

从产品设计上看，ZEM15结构紧凑，外观简洁。其镜体部分采用了金属材料，保证了设备的稳定性和屏蔽性。内部核心部件包括场发射电子枪、电磁透镜、扫描线圈以及半导体探测器等。其样品室设计注重便捷性，样品台可移动范围能满足大部分常规样品的观察需求，加载样品的过程相对简化，无需复杂的抽真空等待过程。

该仪器的性能特点在于其采用冷场发射电子源，这项技术帮助系统在获得图像分辨率方面有所表现。相较于某些台式电镜的钨灯丝或热场发射技术，冷场发射源具有光源亮度较好和能量 spread 较窄的特点，这有助于获得更清晰的图像。ZEM15通常配备背散射电子（BSE）和二次电子（SE）探测器，可以同时获取样品成分衬度和表面形貌衬度信息。

基本参数概览：

• 型号： ZEM15

• 电子枪类型： 冷场发射电子枪

• 分辨率： 可提供优于一定数值的高真空模式分辨率（请以最新参数为准）

• 加速电压： 多档可调（如1kV - 15kV或更宽范围）

• 放大倍数： 宽范围连续可调（从低倍到高倍，如10x - 200,000x或更高）

• 样品室尺寸： 可容纳适度尺寸的样品

• 样品台： 五轴优中心马达控制（X, Y, Z, 倾斜, 旋转）

• 真空系统： 集成分子泵，真空度可达高真空范围

其用途广泛，适用于金属材料断口分析、陶瓷烧结体观察、矿物成分研究、纳米材料形貌表征、半导体芯片缺陷检测、生物样品脱水处理后的观察以及高等院校的教学演示等。

使用前，需将仪器安置在稳固、无强磁场干扰的实验台上。开机后，系统会自动完成抽真空等准备工作。样品制备是关键步骤，对于非导电样品，通常需要进行喷金或喷碳处理以消除荷电效应。将处理好的样品放入样品室，在软件上选择加速电压、探针电流和扫描速度等参数，即可开始寻找视野并聚焦成像。