探秘泽攸ZEM20扫描显微镜操作说明简介

探秘泽攸ZEM20扫描显微镜操作说明简介

ZEM20的操作流程经过精心设计，力求简洁直观。开机顺序依次为：打开主机电源、启动计算机、运行控制软件。软件启动后会自动进行设备自检，确认各系统状态正常。样品装载过程简单：点击软件中的"放气"按钮，待样品室气压与外界平衡后，轻轻拉开舱门，将样品座放置在样品台上，顺时针旋转锁定即可。

开始观察前，需要*行基本设置。在软件界面选择合适的工作模式，包括高真空模式、低真空模式（若选配）和减速模式。根据样品特性设置加速电压，通常导电样品选择10-15kV，非导电样品选择5-10kV。探头设置中可根据需要开启二次电子探测器或背散射电子探测器。

调校过程中，首先使用低倍数（如100倍）寻找感兴趣区域，然后逐步提高放大倍数。在1000倍以上观察时，需要进行焦距和像散校正。软件提供自动对焦功能，也可手动精细调节。拍摄图像时，建议根据需求选择合适的扫描速度和帧平均次数，平衡图像质量和获取时间。

ZEM20的操作流程简洁，适合非专业用户。首先，开启电源并启动控制软件，装入样品后启动真空系统。待真空就绪后（通常需数分钟），加载加速电压。通过鼠标双击样品导航图选择观察区域，将样品移至视野中心。调节焦距时，先寻找特征点（如棱角结构），旋转焦距旋钮直至图像边缘锐利。若图像出现像散，需交替调节X轴与Y轴像散旋钮，并结合焦距调整，重复至图像清晰。接下来，进行光阑对中：点击Align中的Aperture alignment，若图像晃动，调节X和Y参数至稳定。最后，在软件中选择扫描模式（如Line Avg），设置扫描速度与图像分辨率，点击Capture拍照保存。全程可通过舱内摄像头辅助监控。探秘泽攸ZEM20扫描显微镜操作说明简介