泽攸ZEM20扫描显微镜实用技巧与案例

泽攸ZEM20扫描显微镜实用技巧与案例

实际操作中掌握一些技巧能显著提升工作效率。对于表面粗糙的样品，建议先从较低倍数开始观察，找到特征区域后再提高倍数。调节像散时，可选择样品上的孔洞或边缘作为参考，交替调节X、Y方向直至图像在各个方向都清晰。

在观察非导电样品时，可采用多种方法减轻充电效应。除了使用低真空模式或减速模式外，还可适当降低加速电压、减小束流、缩短像素停留时间。对于特别敏感的样品，可采用快速扫描模式，避免电子束长时间照射同一点位。

案例研究显示，某研究组使用ZEM20成功观察了锂电池电极材料的微观结构。通过优化参数设置，清晰显示了活性物质颗粒的尺寸分布和孔隙结构，为改进电池性能提供了重要参考。另一个案例中，研究人员利用ZEM20的背散射电子模式，准确区分了合金中的不同相组成，结合能谱分析获得了成分信息。

特殊样品制备方面，生物样品通常需要经过固定、脱水、干燥等步骤。采用临界点干燥法能较好保持样品原始形貌。对于易碎样品，可通过离子铣削或超薄切片获得平整观察面。这些技巧都能帮助用户获得更高质量的图像。

使用ZEM20进行实验时，技巧与案例可提升效率。例如，观察蠕变孔洞的航空合金时，先通过导航相机定位区域，调节工作距离至5–10mm，采用BSE探测器获取成分衬度。对于鼠脑切片等生物样品，利用低角度BSE探测器与样品台减速技术，在320ns驻点时间内可获得较高信噪比，清晰显示细胞器。操作中，建议从低倍开始寻找特征点，逐步放大至目标倍数的2–3倍，调节焦距与像散后拍摄。图像保存宜选用TIFF格式以保留原始数据。案例显示，ZEM20曾用于无人值守拍摄，连续7小时拼接大面积图像，展现了其稳定性和自动化潜力。

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