在光学元件制造领域，透镜、棱镜、反射镜等产品的表面质量直接决定了光学系统的成像效果与性能。哪怕是微米级的面型误差或细微划痕，都可能导致光线折射、反射异常，影响最终使用体验。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光学轮廓仪 S neox，凭借对微观表面的精准捕捉能力与适配光学元件检测的特性，成为光学元件制造过程中质量控制的关键工具，为各类光学元件的表面检测提供可靠支持。
从光学元件的检测核心需求来看，面型误差、表面粗糙度、曲率精度是三大关键指标，且均需达到纳米或微米级别的检测精度。S neox 搭载的 3D 共聚焦白光干涉技术，恰好能满足这一严苛要求。其垂直分辨率达到纳米级别，可清晰识别光学元件表面几纳米的高低起伏，精准测量面型误差。以凸透镜制造为例，在研磨抛光后，通过 S neox 对透镜表面进行全面扫描，能获取完整的 3D 轮廓数据，计算出透镜的面型偏差是否符合设计标准，避免因面型不精准导致的成像模糊、畸变等问题。
针对不同类型的光学元件，S neox 的检测范围与适配性表现突出。对于小尺寸的微型透镜（如手机摄像头中的镜头），其最小检测区域可精确至几微米，能聚焦透镜中心区域的细微结构，测量边缘的曲率过渡是否平滑；对于大尺寸的望远镜反射镜，检测范围可扩展至数毫米，实现对反射镜表面的全覆盖扫描，确保整体面型均匀。同时，设备配备的多层镀膜精密镜头组，能减少光线在检测过程中的反射与散射干扰，尤其适合透明或半透明光学元件（如石英棱镜）的检测，可清晰呈现元件内部是否存在气泡、杂质，以及表面划痕的深度与长度，避免传统检测方式中因光线穿透问题导致的缺陷遗漏。
在表面粗糙度检测方面，S neox 内置的专业分析算法可精准计算 Ra（算术平均偏差）、Rq（均方根偏差）等参数，且数据重复性优异。光学元件的表面粗糙度直接影响光线的散射程度，例如激光镜片若表面粗糙度过高，会导致激光能量损耗增加，影响激光传输效率。通过 S neox 对镜片表面进行扫描，能快速获取粗糙度数据，判断抛光工艺是否达标，帮助制造企业优化研磨材料与抛光时间，提升产品一致性。
从用材与设备稳定性来看，S neox 也适配光学元件制造的洁净环境需求。机身框架采用高强度铝合金，重量轻且抗腐蚀，可适应洁净车间定期的无尘清洁，不易因环境湿度、清洁剂残留出现部件老化；检测平台选用不锈钢材质，经过精细打磨，平整度高，能稳定承载各类光学元件，避免因平台不平整导致的检测误差。同时，设备的抗振动设计可减少车间内其他加工设备（如研磨机、切割机）运行时产生的振动干扰，确保在多设备协同工作的环境下，检测数据依然稳定可靠。
在实际操作中，S neox 针对光学元件的脆弱特性（易刮花、易破损）设计了便捷且安全的检测流程。以石英棱镜表面缺陷检测为例，使用说明如下：首先，在洁净工作台上，将棱镜放置在 S neox 检测平台的专用软质垫片上（避免金属台面直接接触棱镜表面造成划痕），通过微调平台夹具轻轻固定棱镜，确保棱镜在检测过程中不位移，且夹具压力适中不导致棱镜变形；接着，打开配套检测软件，在 “光学元件检测模板" 中选择 “棱镜检测" 模式，根据棱镜的尺寸（如 10mm×10mm×5mm）设置检测区域（通常覆盖棱镜的两个光学面），并调整扫描分辨率（针对表面缺陷检测，可选择较高分辨率以捕捉细微划痕）；随后，点击 “开始检测"，设备电动平移台以微米级精度带动棱镜移动，共聚焦光学系统同步采集表面光学信号，实时生成三维轮廓图像，过程中软件会自动标记疑似缺陷区域（如划痕、气泡）；检测完成后，软件自动生成检测报告，包含面型误差值、表面粗糙度数据、缺陷位置与尺寸，用户可通过 15 英寸高清触控屏放大查看缺陷细节，也可将报告导出为 PDF 格式，附在产品质检文件中；最后，检测结束后，用无尘布蘸取专用光学清洁剂轻轻擦拭棱镜表面与检测平台，将棱镜放入专用收纳盒，关闭设备电源，完成检测流程。
S neox 的参数配置进一步贴合光学元件检测需求：检测技术为 3D 共聚焦白光干涉技术，保障纳米级检测精度；检测平台移动精度达微米级，满足光学元件微小区域的精准定位；软件中的 “曲率计算" 模块，可自动计算透镜、反射镜的曲率半径与焦距，无需人工手动测量，减少人为误差。此外，设备支持多种光学元件的检测模板存储，如透镜、棱镜、滤光片等，下次检测同类型产品时可直接调用模板，缩短参数设置时间，提升检测效率。
随着光学元件向高精度、微型化方向发展（如 AR/VR 设备中的微型光学元件），对检测设备的要求不断提升。Sensofar S neox 共聚焦白光干涉光学轮廓仪，以精准的检测能力、灵活的适配性与安全的操作流程，为光学元件制造企业提供全流程质量控制支持，帮助企业提升产品合格率，确保光学元件满足各类光学系统的使用需求。
当前位置：
相关文章
上一个：
返回列表
服务热线：
公司地址：
公司邮箱：
产品简介
产品分类