泽攸台式扫描电镜成像性能与参数表现解析

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泽攸台式扫描电镜成像性能与参数表现解析
扫描电子显微镜的核心价值在于成像能力，ZEM20在分辨率、放大倍数及成像适应性上进行了针对性优化。本文结合其技术参数与实际测试数据，解析其性能表现。

产品型号：ZEM20

更新时间：2025-10-13

厂商性质：代理商

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泽攸台式扫描电镜成像性能与参数表现解析

扫描电子显微镜的核心价值在于成像能力，ZEM20在分辨率、放大倍数及成像适应性上进行了针对性优化。本文结合其技术参数与实际测试数据，解析其性能表现。

分辨率是衡量SEM的关键指标。ZEM20在高真空模式下，加速电压30kV时分辨率可达3nm，1kV时为5nm；低真空模式下，10kV分辨率约8nm。这一表现得益于电磁透镜的精密设计——物镜光阑可切换3种尺寸（20μm、50μm、100μm），配合消像散器自动校正，有效抑制色差与球差，提升边缘锐度。测试中，对304不锈钢断口的观察显示，晶界与滑移线清晰可辨，满足材料微观结构分析需求。

放大倍数范围覆盖10×至100,000×，其中1,000×-50,000×为常用区间。设备支持连续变倍，通过电机驱动物镜光阑与透镜电流联动实现，切换过程平滑无跳焦。对于大尺寸样品（如半导体封装芯片），低倍模式可快速定位区域，再逐步放大至高倍观察细节，提升检测效率。

成像模式多样化。除常规SE二次电子像外，BSE背散射电子像可反映样品成分差异——例如，检测铝合金中的Si相分布时，BSE图像中Si颗粒呈亮白色，与基体形成鲜明对比。此外，ZEM20支持低真空模式下的“环境扫描"，可直接观察未喷金的环氧树脂包埋生物样品（如果蝇触角），表面形貌与部分化学信息（如未染色的几丁质结构）同时呈现。

参数调节灵活性是另一优势。加速电压可在1kV-30kV间以100V步进调节，低电压减少对样品的损伤（适用于有机材料），高电压增强信号穿透深度（适用于厚涂层样品）。工作距离（WD）调节范围为5mm-15mm，短WD（5mm）提升分辨率，长WD（15mm）扩大观察视野，满足不同场景需求。

参数表关键项：