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Sensofar三维共聚焦轮廓仪多功能表面分析 Sensofar白光干涉仪采用非接触式光学测量技术，适用于微纳米级表面形貌分析，可满足半导体、精密制造、材料科学等领域的高精度检测需求。
更新时间：2025-08-19
产品型号：S neox
浏览量：65
Sensofar三维轮廓仪：共聚焦与干涉测量结合 Sensofar白光干涉仪采用非接触式光学测量技术，适用于微纳米级表面形貌分析，可满足半导体、精密制造、材料科学等领域的高精度检测需求。
更新时间：2025-08-19产品型号：S neox浏览量：52
Sensofar三维共聚焦白光干涉仪 Sensofar白光干涉仪采用非接触式光学测量技术，适用于微纳米级表面形貌分析，可满足半导体、精密制造、材料科学等领域的高精度检测需求。
更新时间：2025-08-19产品型号：S neox浏览量：42
Sensofar三维轮廓仪微观世界多模态测量利器 Sensofar白光干涉仪采用非接触式光学测量技术，适用于微纳米级表面形貌分析，可满足半导体、精密制造、材料科学等领域的高精度检测需求。
更新时间：2025-08-19产品型号：S neox浏览量：62Sensofar：专注工业，高效检测 Sensofar白光干涉仪采用非接触式光学测量技术，适用于微纳米级表面形貌分析，可满足半导体、精密制造、材料科学等领域的高精度检测需求。
更新时间：2025-08-19产品型号：S neox浏览量：47Sensofar 轮廓仪：微观检测好帮手 Sensofar白光干涉仪采用非接触式光学测量技术，适用于微纳米级表面形貌分析，可满足半导体、精密制造、材料科学等领域的高精度检测需求。
更新时间：2025-08-19产品型号：S neox浏览量：48