光学显微镜勘探学和自然资源应用地质学自然资源领域中的商业活动基于研究地球的地质科学。从微体古生物学到矿物学研究，显微镜的成像与分析应用已逾百年。诸如X射线分析和阴极荧光等技术结合了扫描电子显微镜（SEM）的优势，大大提升了我们全球客户的研究实力。可变压力扫描电子显微镜能够在无需镀碳的情况下对薄片和抛光核芯进行成像。环境成像可以定位储油层沙石内的亲水部位，与离子束技术相结合可观察页岩内的微空隙结构。矿物辨别大部分岩石样品由光学各异性材料组成。在光学显微镜下用于矿物辨别的两个最重...

锂离子电池高电压正极材料获系列进展北大潘锋团队3篇顶刊！锂离子电池高电压正极材料获系列进展锂离子电池作为新一代的绿色储能器件已经被广泛应用于人们的日常生活当中，从移动通讯设备到新能源汽车绿色出行。钴酸锂正极由于具有高的体积能量密度和稳定性，一直占据移动数码产品电池市场。随着移动通讯设备对电池续航能力的要求越来越高，进一步提升钴酸锂的能量密度具有重大产业需求。在各种可行的措施中，提高充电截止电压获取更高的比容量是一种最为直接有效的方法，但却带来循环稳定性差的问题。围绕这一难题，...

Sensofar共聚焦白光干涉仪|测量原理增强型光学测量技术Sensofar共聚焦白光干涉仪虽然一开始作为高性能3D光学轮廓仪设计，但是我们的某些系统所有现有的光学轮廓仪，集所有技术于一身。Sensofar共聚焦白光干涉仪条纹投影非常适合大面积测量，垂直精度和可重复性高，系统噪声低。产品阵容技术组合我们的Sensofar共聚焦白光仪系统采用不同光学测量技术进行工作，一部分系统采用组合技术。聚集这些技术的优点，外加技术和操作软件，成就市场上竞争力的高级测量设备。为何使用四合一技...

Sensofar共聚焦白光干涉仪|多焦面叠加主动照明多焦面叠加是一种为了测量粗糙的表面形状而开发的光学技术。这项技术基于Sensofar在共聚焦和干涉3D测量领域的广泛专业知识，专门设计用于补充低放大率下的测量BACKGROUNDSensofar共聚焦白光干涉仪|多焦面叠加原理主动照明多焦面叠加技术利用了明场中存在景深的特点，样品只有在的特定z范围中对焦。景深会根据物镜的数值孔径或光源波长而变化。Z高度的值是根据图像的高对比度（清晰度或微小细节）来计算的从而得出正确的对焦位置...

Sensofar共聚焦白光干涉仪|共聚焦技术共聚焦轮廓仪专为测量光滑表面到极粗糙表面而开发。共聚焦轮廓提供更佳的横向分辨率，可达0.15μm线条和空间，空间采样可减少到0.01μm，这是关键尺寸测量的理想选择。背景Sensofar共聚焦白光干涉仪|共聚焦技术共聚焦技术能够测量表面高度，将常规图像转换成光学剖面，其中，物镜焦深范围内的那些区域的信号被保留，改善了图像对比度、横向分辨率和系统噪声。光学方案对于3D成像，必须从相机的所有像素获取数据。这意味着：重新构建共聚焦图像。为...

Sensofar共聚焦白光干涉仪|白光干涉技术Sensofar共聚焦白光干涉仪为了测量非常光滑的表面到中等粗糙表面的表面高度，开发了干涉技术，可在任何放大倍率下实现相同的系统噪声。对于PSI，它可实现优于0.01nm的系统噪声。背景干涉工作原理干涉技术的工作原理是：将光分成光学传播路径不同的两个光束，然后再合并，从而产生干涉。干涉物镜允许显微镜作为干涉仪而工作；焦点对准后，可在样本上观察到条纹。光学方案PSI的光学方案与FV具有相同配置，但是现在采用干涉物镜而不是明场。为了获...

Sensofar共聚焦白光干涉仪|光谱反射技术光谱反射能快速、精确、无损地测量薄膜，且无需制备任何样本。背景薄膜透明层沉积在表面上时，其反射率会变化。该系统获取可见范围内样本的反射光谱，并与软件计算的模拟光谱进行比较，对层厚进行修改，直到找到匹配的厚度。对于薄膜，厚度与光波长类似，我们沿着光谱获得波浪状的反射率响应。主要特征从50nm到1.5μm厚的透明薄膜可在不到5秒的时间内测得从50nm到1.5μm厚的透明薄膜不到5秒内采集一个物镜可覆盖整个范围不同光斑大小(3.5μm到...

只需几秒钟即可完成图像采集、记录和共享徕卡显微系统公司推出的新型FLEXACAMC1显微镜摄像头能够让用户更加省时省力地采集、记录和共享图像。它将显微镜转变成无需计算机的独立式数字成像工作站。用户只需将摄像头连接到所需的观察设备和网络，即可开始进行日常成像工作。FLEXACAMC1摄像头集成了屏幕信息显示(OSD)功能，用户可以直接通过显示器进行调节和操作。它还提供直观的标注、叠加和网络工具，用户可以更灵活地改进图像记录。这款新型的独立式显微镜摄像头可按照用户需要的工作场所布...